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高低溫一體機半導體老化試驗 1000次循環

高低溫一體機半導體老化試驗 1000次循環

簡要描述：高低溫一體機半導體老化試驗 1000次循環
高低溫一體機專為半導體老化試驗設計，支持 - 40℃至 150℃寬溫域精確控溫，溫度波動度 ±0.5℃，滿足芯片在極-端環境下的可靠性驗證需求。設備內置智能 PID 算法與快速溫變系統，溫變速率可達 5℃/min，單次循環周期縮短至傳統設備的 1/3，支持 1000 次以上長壽命循環測試

產品型號： SMC-408PF

所屬分類：可程式高低溫一體機

更新時間：2025-05-19

廠商性質：生產廠家

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詳情介紹

高低溫一體機 半導體老化試驗 1000次循環

產品簡介
本高低溫一體機專為半導體老化試驗設計，支持 - 40℃至 150℃寬溫域精確控溫，溫度波動度 ±0.5℃，滿足芯片在極-端環境下的可靠性驗證需求。設備內置智能 PID 算法與快速溫變系統，溫變速率可達 5℃/min，單次循環周期縮短至傳統設備的 1/3，支持 1000 次以上長壽命循環測試。

核心優勢

精準控溫：采用雙循環制冷制熱系統，確保全溫域 ±0.5℃穩定性，避免熱應力損傷芯片。
高效循環：120 組可編程溫變曲線，支持復雜循環模式（如 - 40℃→125℃交替），加速暴露材料疲勞與封裝缺陷。
安全可靠：全封閉制冷系統防止油霧污染，實時監測漏電流與溫濕度數據，自動記錄 1000 次循環日志，支持 USB 數據導出。

高低溫一體機半導體老化試驗 1000次循環

SMC-408PF 技術參數

溫度范圍

基礎范圍：-40℃～+150℃（可選配更低溫區擴展）。

控溫精度

波動度：±0.3℃（高精度版本，優于行業標準 ±0.5℃）。
均勻度：±2℃（箱內溫度分布一致性）。

溫變能力

溫變速率：5℃/min（快速溫變模式，縮短循環周期）。

循環壽命

支持 1000 次以上高低溫循環，內置 120 組程式，每組 99 步。

結構設計

內膽材質：SUS304 不銹鋼，外膽 A3 鋼板噴塑。
測試孔：50mm×2 個，支持多路信號接入。

制冷系統

全封閉環保冷媒，氣液旁路調節技術，節能 50%。

安全保護

超溫、過載、漏電自動斷電，故障代碼顯示。

數據管理

支持 USB 數據導出，記錄 1000 次循環的溫濕度曲線。

高低溫一體機半導體老化試驗 1000次循環

應用場景

高溫儲存：85℃±5℃下驗證芯片長期穩定性。
溫度循環：模擬 1000 次熱沖擊，考核焊點壽命。
濕熱老化：85℃/85% RH 環境下評估耐腐蝕性能。

行業價值
某企業通過該設備發現封裝材料熱膨脹系數不匹配問題，優化后產品故障率下降 25%，研發周期縮短 40%。設備通過 CE、ISO 認證，適用于晶圓、封裝模塊及成品芯片的老化測試，助力半導體產業提升產品可靠性與量產效率

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